ANALYSIS SERVICE

分析サービス

FRACTOGRAPHY

フラクトグラフィと元素分析

破面を調査するフラクトグラフィ技術では、破壊に関する情報が得られるため、部材の損傷原因を究明する手法として大いに活用されています。当社では、走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型X線分光分析装置などを用いて損傷部材の破面状態から破壊形態の特定・元素分布分析まで、信頼性の高いデータを提供しています。

走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)

疲労破面のビーチマーク

疲労破面のビーチマーク

延性破面のディンプル

延性破面のディンプル

疲労破面のストライエーション

疲労破面のストライエーション

脆性破面のリバーパターン

脆性破面のリバーパターン

疲労破面の起点にある介在物

疲労破面の起点にある介在物

主要装置

主要装置一覧
実体顕微鏡
走査型電子顕微鏡(SEM)
エネルギー分散型 X線分光分析装置(EDX)