IA/MS法を利用しやすい環境を整えることを目指し,市販GC-MS装置用のオプション機器として開発したものです.本機器の開発は「経済産業省 戦略的基盤技術高度化支援事業 JPJ005698」(通称:サポイン事業)の助成を受けて実施しました.
【装置コンセプト・特徴】
・ダイレクト質量分析に特化したシステム
① IA法により広範な有機化合物を網羅的に検出
② 定性~半定量分析に対応
③ 赤外ランプによる円滑な加熱/放冷サイクル
・GC-MS法とDIP-IA/MS法の切り替えが容易
④ 切り替え作業:10分程度
※真空の立ち下げ/立ち上げ工程は除く
・JEOL製GC-MS装置とのシステム連携
⑤ JEOL標準ソフトウェアによる昇温制御
⑥ DIP操作シーケンスによる動作管理
⑦ 昇温とMSデータの一元管理
【使用例】
●品管用途でのスクリーニング診断
1)規制成分対応
・RoHS指令
・REACH規制/SVHC
・グリーン調達関連 など
2) 原材料組成などロット管理
・異同識別
・不純物管理 など
●R&D用途でのマススペクトル
/発生ガス挙動の評価
・化学組成解析
・分子量分布計測 など
【概要】
精密質量による化学組成解析や末端構造解析にも対応するために開発中のユニットです.最新型のJEOL製TOFMS装置に対応することで,想定される質量分解能は2~3万以上,IA/MS法としては過去最高の質量分解能を目指しています.
【開発進捗】
2024.02月 ハードウェアが完成し,Liイオンのシグナル検出
2024.04月 内標ガスの[M+Li]+付着イオンを概ね想定する感度レベルで検出し,
一次性能試験(装置調整)を完了
2024.05月 外装カバー・配線類の取り付け,IA制御器による統合制御など接続調整
2024.06月~ 二次性能評価試験を開始予定
(DIP法による高沸点成分の検出,半定量分析,精密質量性能確認ほか)