有機化合物の初動調査／スクリーニング分析

　有機化合物の簡易・迅速スクリーニング技術としてイオン付着イオン化質量分析法の高度化，社会実装を目指す外研ラボとして，装置やアプリケーションの開発を手掛けています．当サイトで主に扱うのはフラグメントレスイオン化（ソフトイオン化）質量分析法の一つであるイオン付着イオン化質量分析法（IA/MS法）です.

　DIP-IAユニット製造販売（GC-MS装置用オプション機器）

従来の質量分析計と一体になったDIP-IA/MS専用機に対して，市販GC-MS装置に平易に取り付け可能なオプションユニット化を図った新モデルです．
＞＞装置カタログ

　[開発中] GC-IAユニットサンプル貸出（GC-MS装置用オプション機器）

市販GC-MS装置に平易に取り付け可能なオプションユニットのGCモデルです．開発中のユニットのサンプル貸出を開始しました．
下記のTOFMS版の他，QMS用のユニットも開発中です．

　　　

　[オープンラボ] 共同研究・装置利用

新開発のDIP-IAユニットの他、下記の装置を使う共同研究・装置利用を随時受け付けています。ご関心をお持ちいただける方は「お問合せ」からご連絡ください．
【備考】現在、定常的に運用しているIA/MS装置の試料導入インターフェイスはDIP法のみです．
　　技術的には，気体導入用のキャピラリインターフェイスやスキマーインターフェイスも可能です．
　　他の試料導入系にご興味がある場合はご相談ください．

　受託試験・調査，技術支援サービス

オープンラボでの共同研究や装置利用サービスの他，ラボ保有装置・機器を使った各種受託分析，試験・調査研究などの技術支援サービスを提供しています．詳しくはこちらをクリックしてください．